Produits
MEB pour l’imagerie
Phenom Pure : MEB de table d’entrée de gamme
Phenom Pro : MEB de table haute résolution
Phenom XL : MEB de table à grande capacité de chargement
Phenom Pharos : MEB FEG pour la très haute résolution
Microscope Electronique à Balayage Axia™ ChemiSEM™
MEB automatisé
MEB Phenom ParticleX TC : Propreté Technique
MEB Phenom ParticleX Batteries
MEB Phenom ParticleX AM : Fabrication Additifs
MEB Phenom ParticleX Acier
MEB Phenom ParticleX GSR : Résidus de Tirs
AsbestoMetric : logiciel analyse Amiante
MEB couplé avec l’analyse élémentaire
Phenom ProX : MEB de table haute résolution couplé à l’EDS
Phenom XL : MEB de table à grande capacité de chargement
Phenom Pharos : MEB FEG pour la très haute résolution
Microscope Electronique à Balayage Axia™ ChemiSEM™
Solutions logicielles pour la mesure
PoroMetric
3D Reconstruction
ParticleMetric
FiberMetric
PPI
Préparation des échantillons
LUXOR
Au
LUXOR
Pt
TrionMill & SEM Mill
TEM Mill
NanoClean
Nebula
UniMill
GentleMill
SEMPrep2
Accessoires
Porte-échantillon STEM
Porte-échantillon à alimentation électrique
Le porte-échantillon à essais mécaniques
Porte-échantillon à contrôle de température
Porte-échantillon à réduction de charges
Porte-échantillon eucentrique
Micro to Nano consommables
IMINA Micro Robot miBot
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Téléchargez ici la brochure du produit Phenom PARTICLEX TC : ANALYSE DE LA PROPRETÉ DES COMPOSANTS